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走査型FFT解析を用いたTEM画像解析手法に関する研究発表

MirumeAI株式会社代表の大野一茂が、大学での研究活動の一環として、透過型電子顕微鏡(TEM)画像の走査型FFT解析と材料解析手法について学会発表を行いました。 本研究は、日本顕微鏡学会 学術講演会(2025年5月2 […]

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AI×HRTEM による高速結晶相解析技術を顕微鏡学会で発表しました

顕微鏡学会・学術講演会にて、AI-HRTEM画像解析における高速特徴抽出技術(FFT-based Feature Extraction) に関する研究成果を発表しました。本研究は、HRTEM画像に含まれる回折情報をAI解 […]

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