走査型FFT解析を用いたTEM画像解析手法に関する研究発表

MirumeAI株式会社代表の大野一茂が、大学での研究活動の一環として、透過型電子顕微鏡（TEM）画像の走査型FFT解析と材料解析手法について学会発表を行いました。

本研究は、日本顕微鏡学会 学術講演会（2025年5月26日）にて報告されたものです。

本発表では、TEM画像を小領域に分割して高速フーリエ変換（FFT）解析を行い、機械学習に用いる結晶相や非晶質相の特徴量を抽出することで、材料の微細構造を可視化する解析手法を紹介しました。

この手法により、従来は時間を要していたTEM画像解析を、より高速かつ定量的に行える可能性が示されました。

MirumeAIでは、AI画像解析技術を活用した材料解析および製造分野への応用研究を進めており、今後もデータ駆動型の材料研究・製造技術の発展に貢献してまいります。

※本記事は学会発表内容に基づく研究紹介です。